測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測(cè)量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測(cè)量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測(cè)量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測(cè)量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測(cè)量精度
重復(fù)精度
總放大倍率
物方視場(chǎng)
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時(shí)間:08-16 2024 來自:祥宇精密
祥宇影像測(cè)量?jī)x在制造過程中,由于材料、加工工藝等方面的限制,不可避免地會(huì)產(chǎn)生一些誤差。例如,機(jī)械部件的加工精度、裝配精度等都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。
測(cè)量?jī)x器在出廠前都會(huì)經(jīng)過嚴(yán)格的校準(zhǔn),但校準(zhǔn)過程中也可能存在誤差。校準(zhǔn)設(shè)備的精度、校準(zhǔn)方法的合理性等都會(huì)影響最終的測(cè)量結(jié)果。
隨著使用時(shí)間的增加,測(cè)量?jī)x器的一些零部件可能會(huì)出現(xiàn)老化現(xiàn)象,如機(jī)械部件的磨損、電子元件的老化等,這些都會(huì)導(dǎo)致測(cè)量誤差的產(chǎn)生。
溫度的變化會(huì)對(duì)測(cè)量?jī)x器的性能產(chǎn)生顯著影響。例如,金屬材料的熱脹冷縮會(huì)導(dǎo)致測(cè)量基準(zhǔn)的變化,從而產(chǎn)生測(cè)量誤差。
濕度過高或過低都可能影響測(cè)量?jī)x器的正常工作。例如,濕度過高可能導(dǎo)致電子元件短路,濕度過低則容易產(chǎn)生靜電,影響測(cè)量結(jié)果。
測(cè)量?jī)x器在工作時(shí)需要一個(gè)穩(wěn)定的環(huán)境,振動(dòng)干擾會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果的不穩(wěn)定。工廠中的機(jī)械設(shè)備、交通車輛等都可能產(chǎn)生振動(dòng),影響測(cè)量精度。
操作人員在使用測(cè)量?jī)x器時(shí),如果操作不當(dāng),也會(huì)導(dǎo)致測(cè)量誤差。例如,輸入錯(cuò)誤的測(cè)量參數(shù)、誤操作儀器等都會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。
樣品的準(zhǔn)備工作也是影響測(cè)量結(jié)果的重要因素。例如,樣品表面的清潔度、樣品的放置位置等都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。
測(cè)量結(jié)果的數(shù)據(jù)處理也是一個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)。操作人員在處理數(shù)據(jù)時(shí),如果方法不當(dāng)或者計(jì)算錯(cuò)誤,都會(huì)導(dǎo)致最終結(jié)果的偏差。
不同的測(cè)量方法有不同的測(cè)量原理,每種原理都有其適用范圍和局限性。例如,光學(xué)測(cè)量方法在某些情況下可能會(huì)受到光線折射、反射等因素的影響,從而產(chǎn)生誤差。
測(cè)量過程中的每一個(gè)步驟都可能引入誤差。例如,樣品的定位、測(cè)量?jī)x器的調(diào)整、數(shù)據(jù)的讀取等都會(huì)對(duì)最終結(jié)果產(chǎn)生影響。
多次測(cè)量取平均值是一種減小隨機(jī)誤差的有效方法。如果測(cè)量次數(shù)不足,可能會(huì)導(dǎo)致結(jié)果的偶然性增大,從而產(chǎn)生誤差。
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